硅电容器EMSC系列

可薄至100μm的引线键合/嵌入用硅电容器

依靠村田应用半导体(硅)技术开发的独特的集成无源器件和设备(Integrated Passive Devices),可以解决此类需要高可靠性的用途的各种问题。支持引线键合和嵌入的薄型硅电容器,厚度仅为100μm(也能根据要求薄至80μm),对于需要最佳去耦特性的设计人员而言,这是最适合嵌入用途的解决方案。
EMSC被优化为多层基板封装、刚性/柔性PCB、FR4、陶瓷、玻璃、引线框架或金属薄片的平台。硅电容器技术,提供电容器集成功能(最高250nF/mm2),与现有解决方案相比,可以更加小型化。村田的技术,与钽和MLCC等替代的电容器技术相比,可靠性最高达到后者的10倍,不会发生开裂现象。半导体(硅)技术,在工作电压和工作温度的整个范围内,静电容量极其稳定,并稳定保持高绝缘电阻。这项以硅为基础的技术符合RoHS标准,可以进行无铅回流封装。

* Murata Integrated Passive Solutions S.A.(旧IPDiA)

各产品的装配图请见此处

特点

  • 100μm的超薄型(也能根据要求薄至80μm)
  • 低ESL和ESR
  • 低漏电流
  • 高可靠性
  • 嵌入或引线键合解决方案

用途

  • 用途
  • 医疗、航空航天、汽车产业等要求严格的所有用途
  • 电源去耦/能动元件滤波
  • 高可靠性用途
  • 使用电池的设备
  • 限制体积的用途

EMSC系列规格

参数
静电容量范围 390pF to 1µF
静电容量容差 ±15%(*)
安装方法 引线键合
(嵌入)
(水平电极)(*4)
工作温度范围 -55°C to 150°C
保管温度范围 -70°C to 165°C(*2)
温度系数 +60ppm/K
击穿电压 (BV) 11VDC or 30VDC(*5)
相对于RVDC的静电容量变化 0.1%/V (from 0 to RVDC)
绝缘电阻 100nF的商品
100GΩ(25℃,施加3V,120秒后)
老化 Negligible, < 0.001% / 1000h
电容器厚度 100µm(*3)
  • (*) 也能根据客户要求支持其他的规格值
  • (*2)包装材料除外
  • (*3)也能根据要求薄至80μm
  • (*4)有关各产品的安装方法,请查看装配图
  • (*5)请查看此处的FAQ以了解击穿电压和额定电压之间的关系。

EMSC系列

关于耐压和额定电压之间的关系,请查看此处的FAQ。
请查看此处的FAQ以了解如何理解产品名称。

装配图

Assembly Note Silicon Capacitor_Assembly by wirebond (PDF: 2.0 MB)

UPDATE
2023/12/1