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所谓TLP（Transmission Line Pulse）测定，是指对晶体管及集成电路施加脉冲，获取ESD保护元件及ESD保护电路的电压（V）/电流（I）特性数据的试验。 确认ESD保护元件及被保护的元件对于类似ESD涌浪这种短时间常数的脉冲，可以何种I-V特性容许多大的电流强度。 DC有时会导致热破坏，但基于TLP装置的测定不易引起热破坏，可以获得大电流下的特性。
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