シリコンキャパシタのFAQ Q シリコンキャパシタで行っている信頼性試験について教えて下さい。

A

信頼性を評価するための以下の試験の条件と結果の記述はアプリケーションノート"Lifetime of 3D capacitorsPDF"に記載されています。

  • 酸化膜破壊試験(TDDB)
  • 温度サイクル試験(TMCL)

他の信頼性試験についてはお問い合わせ下さい。

関連用語:シリコンキャパシタ、シリコンコンデンサ、シリコンIPD、Silicon Capacitor(Si-Cap)、Silicon IPD(Si-IPD、Integrated Passive Device)

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