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Polymer Al Capacitor
ECASシリーズは弊社工程で十分なデバッキングとスクリーニングを実施しているため基本的に故障発生の可能性が低く特性安定していますが、故障発生の可能性はゼロではありません。下記がECASシリーズの主な故障モードです。
偶発故障 : LC大によるショートモード
回路上で許容以上の負荷（熱的ストレス/電気的ストレス/機械的ストレス）が突発的に掛かることでごく稀に誘電体酸化皮膜の絶縁破壊を引き起こしショートモードに至ります。
磨耗故障 : Cap小によるオープンモード
高温環境下で電解質（高分子）の劣化が進行してCapが規格値から外れた状態になり、最終的にはオープンモードに至ります。これがECASシリーズの寿命にあたります。15年の市場実績では、寿命による返却はまだ受けたことがないです。
市場における故障モードは主にオープンモードです。
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