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セラミックコンデンサ(キャパシタ)LLGシリーズ

  • RoHS指令適合製品
  • REACH規則適合製品
  • 低インダクタンス
  • AEC-Q200
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自動車インフォテインメント/コンフォート機器用AEC-Q200対応4端子低ESLチップ積層セラミックコンデンサ

高速動作ICの電源デカップリングに最適な4端子型低ESLコンデンサ

適用用途

適用用途の詳細については、以下のリンクまたは仕様書等をご確認ください。
適用用途詳細
ご使用上のご注意

民生機器 産業機器 自動車用インフォテインメント/
コンフォート機器
自動車用パワートレイン/
セーフティ機器
インプラント除く医療機器
[GHTF A/B/C]
インプラント医療機器
または医療機器 [GHTF D]

特徴

1. 低ESL

構造の工夫により等価直列インダクタンス(ESL)が低く、高周波特性が優れているため、高速動作ICの電源デカップリングに最適なコンデンサです。

  • 構造例
  • 構造例2
構造例3

2. 正方形形状

正方形の形状は、最小限のBGAボール除去個数で最大限の容量取得を可能にしています。

正方形状

3. 超低背化対応

高さ90umMAXといった超低背のラインナップを揃えており、狭小なBGAボール間に実装可能です。

超低背化対応

4. AEC-Q200に対応

IVIといった車載機器の高機能化・多機能化が進み、プロセッサの高性能化や機器の小型化要求により、自動車市場においてもプロセッサの電源デカップリングに低ESLチップ積層セラミックコンデンサが採用され始めています。
このシリーズは、カーマルチメディア、カーインテリア、カーコンフォート用途および一般電子機器で使用するために設計されています。そのため、乗客の安全や車の駆動機能 (例えばABS、エアバッグなど)のクリティカルな用途では使用しないでください。

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項目 AEC-Q200対応「LLG」シリーズ
最高使用温度:105°C
一般用「LLF」シリーズ
試験条件 試験条件

温度サイクル

温度サイクル : 1,000回

温度サイクル : 5回

耐湿負荷

試験温度 : 85±2°C
試験湿度 : 80~85%RH
試験時間 : 1,000時間

試験温度 : 40±2°C
試験湿度 : 90~95%RH
試験時間 : 500時間